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2021.08.26 Thu UP

本学教員らの研究成果が『日経産業新聞』に掲載

本学 理工学部 電気電子情報工学科 片山 昇准教授らの「太陽光パネル劣化診断」の研究成果が『日経産業新聞』に掲載されました。

これまで太陽電池パネルの劣化診断としてはI-Vカーブや強制発光測定によるものが一般的でしたが、「交流インピーダンス測定」を導入することで、劣化を高い精度で検出することが可能になります。

太陽光パネルのわずかな故障兆候を検出できるため、今後の発電効率の予測などへの応用が期待されます。
片山准教授は東京ガス株式会社との共同研究で交流インピーダンス測定を用いた劣化診断システムを開発しました。

詳しくは掲載紙をご覧ください。

■掲載紙
2021年8月13日(金)
日経産業新聞

■片山 准教授
片山准教授HP:https://www.tus.ac.jp/academics/teacher/p/index.php?6534
研究室HP:http://www.energylab.jp/
技術紹介YouTube:https://www.youtube.com/watch?v=eEHmYLzAhf4