SPIE. Astronomical Telescopes + Instrumentation 2020にて「宇宙放射線モニター用センサーの開発とその放射線耐久性の評価」を研究している幸村孝由教授らが研究発表

SPIE. Astronomical Telescopes + Instrumentation 2020
会　　期：2020年12月14－18日
開催方法：オンライン
■Soft X-ray performance of Kyoto’s event-driven X-ray astronomical SOI pixel sensor
Takeshi Go Tsuru, Ryota Kodama, Kazuho Kayama, Hiroyuki Uchida, Takaaki Tanaka, Yasuo Arai, Ikuo Kurachi, Koji Mori, Ayaki Takeda, Yusuke Nishioka, Takahiro Hida, Masataka Yukumoto, Takayoshi Kohmura, Kouichi Hagino, Mitsuki Hayashida, et al,
 
■Proton radiation hardness of X-ray SOI pixel detectors with pinned depleted diode structure
Mitsuki Hayashida, Takayoshi Kohmura, Kouichi Hagino, Kenji Oono, Kousuke Negishi, Keigo Yarita, Masatoshi Kitajima, Takeshi Go Tsuru, Takaaki Tanaka, Hiroyuki Uchida, et al,
 
■Status of x-ray imaging and spectroscopy mission (XRISM)
Makoto Tashiro, …, Takayoshi Kohmura, …, Kouichi Hagino, et al
 
■Soft x-ray imager (SXI) for Xtend onboard X-Ray Imaging and Spectroscopy Mission (XRISM)
Hiroshi Nakajima, …, Takayoshi Kohmura, Kouichi Hagino, et al
 
　SPIE. Astronomical Telescopes + Instrumentation 2020についてはこちら
　幸村孝由教授についてはこちら