理工学部土木工学科小島研究室は、発明した特許（５件）を活用して、NSW株式会社、日本工営株式会社と共同で開発した画像特徴強調＆画像特徴領域内分類支援システム「VIS＆TFC」について、第32回 Japan IT Week 春(2023年4月5日(水)～7日(金))にて展示される予定です。

VIS＆TFCシステムは、錯視を誘発する画像処理によりひび割れと各種画像特徴を強調表示するシステム「VIS」と、画像の特徴を分類・解釈する「TFCアルゴリズム」の機能を持ち、ひび割れの強調表示とひび割れ領域内の深さ情報の可視化支援（分類クラスの電磁波反射率順位）することを目的としています。

■展示会の情報
第32回 Japan IT Week 春
https://www.japan-it.jp/spring/ja-jp.html
ＮＳＷ社展示物としてIoTのクラウドサービスや遠隔監視/予兆保全/見える化等の各種サービスを紹介予定となります。

■NSW社ホームページ
画像特徴強調＆画像特徴領域内分類支援システム「VIS＆TFC」
https://www.nsw.co.jp/solution/detail.html?ssid=vis_tfc