世界初の新たな質量分析装置の開発

　現代の価値観の一つは、時間や対価に対する効率です。いかに早く、目先に成果を上げるかに企業はもとより大学も躍起になっており、肝心のモノづくり・計測技術は等閑になっております。モノづくり技術は買ってくればいい、計測技術は依頼に任せればいい。これが、時代の潮流です。今後、中国・アジア諸国の台頭が加速していくと予測されるなか、私共は、これからの日本に何を伝え残していかなければならないのでしょうか？モノづくり・計測技術の革新なしに、最先端の研究はない。もう一度、技術の立ち位置に戻り、我が国の国策としてモノづくり・計測技術を通した人材育成・日本独自のものづくりに立ち返る必要があると考えております。

1. ①REF-MSを用いたイオン注入プロセス,②マイクロサンプリング法を用いた局所領域応力特性の可視化

   ① 研究は、材料製造プロセスにおけるイオンビーム形成において、元素選択を可能とします。元素選択が可能なイオンビーム形成は、任意の元素を含む溶液から電界スプレーイオン化(ESI)法によってイオン化し、目的とする元素を回転電場質量分析器(REF-MS)によってモノづくりをすることを目的としております。
   ② 研究の目的は、集束イオンビーム（FIB）マイクロサンプリング法を使って、異なる材料の境界部分の局所的な応力特性を明らかにします。具体的には、炭素繊維複合材料（CFRP）の初期破壊のメカニズムや、半導体封止パッケージの境界強度を評価します。