Top > Back > 学会発表 の検索結果 179 件中 121‐150 件目
都市大気環境中の超微小粒子の粒別分析法に関する研究 |
[ 共同発表者名 ] 佐藤基和,鈴木健一郎,野島 雅,二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
[ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
Precise analysis on shave-off depth profiling |
[ 共同発表者名 ] M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 16th international workshop on inelastic ion-surface collisions |
[ 発表日付 ] 2006年9月19日 |
レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析 |
[ 共同発表者名 ] 尾張真則,谷口昌宏,野島 雅 |
[ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス第141委員会第125回研究会 |
[ 発表日付 ] 2006年9月13日 |
二次イオンマッピングにおける一次ビーム走査方式に関する検討 |
[ 共同発表者名 ] 岩並 賢,石崎泰裕,木下恵介,野島 雅,尾張真則 |
[ 学会・会議名 ] 東京コンファレンス2006 |
[ 発表日付 ] 2006年9月1日 |
Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale |
[ 共同発表者名 ] M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 9th international symposium on SIMS and related techniques based on ion-solid interactions |
[ 発表日付 ] 2006年7月20日 |
凍結含水生物試料の三次元微小分析(2) |
[ 共同発表者名 ] 岩並 賢、劉 玉静、野島 雅、尾張真則 |
[ 学会・会議名 ] 2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会 |
[ 発表日付 ] 2006年3月23日 |
Shave-off深さ分析法による透明導電膜の分析 |
[ 共同発表者名 ] 中村和人、内海健太郎、田中里沙、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会 |
[ 発表日付 ] 2006年3月23日 |
凍結含水生物試料の三次元微小分析(2) |
[ 共同発表者名 ] 岩並 賢,劉 玉静,野島 雅,尾張真則 |
[ 学会・会議名 ] 2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会 |
[ 発表日付 ] 2006年3月23日 |
“Shave-off深さ分析法”による透明導電膜の分析 |
[ 共同発表者名 ] 中村和人,内海健太郎,田中里沙,野島 雅,尾張真則,二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会 |
[ 発表日付 ] 2006年3月23日 |
Improvement of a method for reconstructing the three-dimensional atom probe (3DAP) data |
[ 共同発表者名 ] T. Chiba, M. Nojima and M. Owari |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level Characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月8日 |
Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by X-ray photoelectron diffraction exited by Al-ka line and Cr-ka line |
[ 共同発表者名 ] H. Mochiduki, K. Amano, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level Characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月8日 |
Analysis of transparent conductive films by nano-beam SIMS |
[ 共同発表者名 ] K. Nakamura, Y. Ishikawa, K. Utsumi, H. Iigusa, R. Tanaka, Y. Ishizaki, T. Yamamoto, A. Maekawa, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Development of 3D analysis using shave-off depth profiling by FIB-SIMS |
[ 共同発表者名 ] A. Maekawa, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, R. Tanaka, T. Sakamoto, M. Owari, M. Nojima and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition |
[ 共同発表者名 ] K. Amano, H. Mochiduki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
An application of TOF-SIMS mapping for biotissue |
[ 共同発表者名 ] M. Okazaki, T. Iwanami, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Dual beam system for the sector typed nano-beam SIMS |
[ 共同発表者名 ] M. Nojima, A. Maekawa, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level Characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Shave-off depth profiling of dendritic short-circuit growth caused by ion migration |
[ 共同発表者名 ] T. Yamamoto, A. Maekawa, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari, M. Nojima and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Study on three-demensional microanalysis of biotissue |
[ 共同発表者名 ] T. Iwanami, YuJing Liu, M. Okazaki, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari |
[ 学会・会議名 ] 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices'05 |
[ 発表日付 ] 2005年12月6日 |
Shave-off深さ方向分析法を用いた3次元ナノスケール分析法の開発 |
[ 共同発表者名 ] 前川綾香,山本剛史,石崎泰裕,田中里沙,坂本哲夫,尾張真則,野島 雅,二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 2005年(平成17年)第25回表面化学講演大会 |
[ 発表日付 ] 2005年11月18日 |
Shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS |
[ 共同発表者名 ] M. Nojima, A. Maekawa, Y. Yamamoto, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 15th international conference on secondary ion mass spectrometry |
[ 発表日付 ] 2005年9月16日 |
Characterization of indevidual complex particles in urban atmospheric environment |
[ 共同発表者名 ] K. Suzuki, K. Yamada, M. Nojima, B. Tomiyasu and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] 15th international conference on secondary ion mass spectrometry |
[ 発表日付 ] 2005年9月15日 |
環境中起源解析のための熱媒使用PCBの熱変性に関する検討 |
[ 共同発表者名 ] 海老原孝、山本あずさ、善養寺一也、上野 聡、野島 雅、二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第54年会 |
[ 発表日付 ] 2005年9月14日 |
都市大気環境中ナノ粒子の捕集・分析と起源解析 |
[ 共同発表者名 ] 酒井俊史、中野 智、鈴木健一郎、瀧井貴紀、冨安文武乃新、野島 雅、二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第54年会 |
[ 発表日付 ] 2005年9月14日 |
Shave-off深さ方向分析法のさまざまな試料への応用 |
[ 共同発表者名 ] 前川綾香、戸井雅之、山本剛史、冨安文武乃進、坂本哲夫、尾張真則、野島 雅、二瓶好正 |
[ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス141委員会 |
[ 発表日付 ] 2005年6月10日 |
Shave-off depth profiling for nano-devices |
[ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, Y. Yamamoto, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei |
[ 学会・会議名 ] International union of microbeam societies 2005 |
[ 発表日付 ] 2005年5月24日 |
Cr-La線とAl-Ka線励起光電子回折法によるh-BN/Ni(111)の表面構造解析 |
[ 共同発表者名 ] 望月 英宏、中村 仁、藤原 宣博、鶴田 明華、馬見新 秀一、若松 尚子、野島 雅、尾張 真則、二瓶 好正 |
[ 学会・会議名 ] 第24回表面科学講演大会 |
[ 発表日付 ] 2004年10月9日 |
ナノビームSIMSを用いたshave-off深さ方向分析 |
[ 共同発表者名 ] 野島 雅、戸井 雅之、前川 綾香、山本 剛史、冨安 文武乃進、坂本 哲夫、尾張 真則、二瓶 好正 |
[ 学会・会議名 ] 第24回表面科学講演大会 |
[ 発表日付 ] 2004年10月9日 |
Cr-La線とAl-Ka線励起光電子回折法によるh-BN/Ni(111)の表面構造解析 |
[ 共同発表者名 ] 望月 英宏、中村 仁、藤原 宣博、鶴田 明華、馬見新 秀一、若松 尚子、野島 雅、尾張 真則、二瓶 好正 |
[ 学会・会議名 ] 第24回表面科学講演大会 |
[ 発表日付 ] 2004年10月9日 |
ナノビームSIMSを用いたshave-off深さ方向分析 |
[ 共同発表者名 ] 野島 雅、戸井 雅之、前川 綾香、山本 剛史、冨安 文武乃進、坂本 哲夫、尾張 真則、二瓶 好正 |
[ 学会・会議名 ] 第24回表面科学講演大会 |
[ 発表日付 ] 2004年10月9日 |
Study of 3D micro-scale analysis of freeze-non-dried biotissue |
[ 共同発表者名 ] Y. Liu, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari |
[ 学会・会議名 ] 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis, |
[ 発表日付 ] 2004年10月5日 |