Top > Back > 学会発表 の検索結果 179 件中 91‐120 件目
| 第16回二次イオン質量分析国際会議 SIMS XVI |
| [ 共同発表者名 ] 工藤正博、加藤信彦、青柳里果、遠藤一央、尾張真則、片岡祐治、加連明也、河野禎市郎、小松 学、高野明雄、坂本哲夫、関 節子、野島 雅、林 俊一、福島和彦、星 孝弘、三輪司郎、村瀬 篤、森下祐一、圦元尚義 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス141委員会 第131回研究会 |
| [ 発表日付 ] 2008年2月25日 ～ 2月26日 |
| 視点を変える―絶対スケール深さ方向プロファイリング― |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] 東京理科大学 総合研究機構 第四回 ものづくり・先端計測科学研究部門シンポジウム |
| [ 発表日付 ] 2007年12月1日 ～ 12月1日 |
| Charge neutralization using secondary electron shower for shave-off depth profiling |
| [ 共同発表者名 ] Y. Ishizaki, T. Yamamoto, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 16th international conference on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2007年11月1日 |
| Highly accurate shave-off depth profiling by simulation method |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, K. Nakamura, Y. Ishizaki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 16th international conference on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2007年11月1日 |
| Shave-off depth profiling for TEM samples |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 16th international conference on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Study on dynamics of surface structure by rapid and time-resolved X-ray photoelectron diffraction |
| [ 共同発表者名 ] Y. Kisaka, A. Hashimoto, A. Suzuki, S. Miyasaka, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Surface structual analysis of VOX/TiO2 by X-ray photoelectron diffraction |
| [ 共同発表者名 ] S. Miyasaka, K. Amano, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Differential photoelectron holography of Cu(100) surface by using of laboratory level X-ray sources |
| [ 共同発表者名 ] A. Hashimoto, A. Suzuki, Y. Kisaka, S. Miyasaka, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Holographic imaging of TiO2(110) strucure by differential photoelectron holography |
| [ 共同発表者名 ] A. Suzuki, A. Hashimoto, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Evaluation of the instrument for three-dimensional atom probe (3DAP) |
| [ 共同発表者名 ] T. Kaneko, S. Ito, C. Yamashita, N. Mayama, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| The stress of the needle specimen on the three-dimensional atom probe |
| [ 共同発表者名 ] N. Mayama, C. Yamashita, T. Kaito, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| Development of prest-type sample stage in three-dimensional atom probe |
| [ 共同発表者名 ] S. Ito, T. Kaneko, C. Yamashita, T. Kaito, T. Adachi, N. Mayama, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 6th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '07 |
| [ 発表日付 ] 2007年10月30日 |
| シミュレーション計算を用いたshave-off深さ方向分析法の高精度化 |
| [ 共同発表者名 ] 藤井麻樹子、中村和人、石崎泰裕、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第56年会 |
| [ 発表日付 ] 2007年9月21日 |
| X線光電子分光/回折法による酸化チタン上に成長した酸化バナジウム薄膜の構造解析 |
| [ 共同発表者名 ] 宮坂真弥、木坂祐介、橋本明菜、鈴木篤史、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第56年会 |
| [ 発表日付 ] 2007年9月21日 |
| Shave-off深さ方向分析法の可能性 |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス141委員会 第129回研究会 |
| [ 発表日付 ] 2007年9月14日 |
| レーザー補助広角３次元アトムプローブの開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(I) |
| [ 共同発表者名 ] 尾張真則、間山憲仁、岩田達夫、伊藤聡子、金子哲也、三上素直、谷口昌宏、野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス141委員会 第129回研究会 |
| [ 発表日付 ] 2007年9月14日 |
| Shave-off深さ方向分析法における帯電補償法の開発とその評価 |
| [ 共同発表者名 ] 石崎泰裕、山本剛史、藤井麻樹子、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 第68回日本分析化学討論会 |
| [ 発表日付 ] 2007年5月19日 |
| 絶対スケール深さ方向分析法の高精密化に関する研究 |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] 第4回東京理科大学特定研究助成金（平成18年度）研究成果報告会 |
| [ 発表日付 ] 2007年5月12日 |
| 高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解析 |
| [ 共同発表者名 ] 二瓶好正，尾張真則，野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] 分子系の極微構造反応の計測とダイナミクス第７回公開シンポジウム |
| [ 発表日付 ] 2007年1月26日 |
| Shave-off depth profiling for advancing nanotechnology |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] International open symposium on nanoscience and nanotechnology |
| [ 発表日付 ] 2007年1月24日 |
| 次世代ものづくりに向けた先端計測分析技術・機器開発 |
| [ 共同発表者名 ] 二瓶好正，野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] 2006年材料技術研究協会討論会 |
| [ 発表日付 ] 2006年12月2日 |
| 実験室系における微分光電子ホログラフィー測定装置開発 |
| [ 共同発表者名 ] 橋本明奈，木坂祐介，天野健太郎，野島 雅，尾張真則，二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 第26回表面科学講演大会 |
| [ 発表日付 ] 2006年11月9日 |
| 高速・時間分解XPEDを用いた表面構造ダイナミクスに関する研究 |
| [ 共同発表者名 ] 木坂祐介，天野健太郎，橋本明奈，野島 雅，尾張真則，二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 第26回表面科学講演大会 |
| [ 発表日付 ] 2006年11月6日 |
| Visualization on ion migration of Cu wiring into IC package by the shave-off depth profiling |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 5th European workshop on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2006年9月26日 |
| 凍結含水生物試料の三次元微小分析 |
| [ 共同発表者名 ] 岩並 賢，木下恵介，野島 雅，尾張真則 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月22日 |
| Shave-off深さ方向分析における帯電補償法の開発 |
| [ 共同発表者名 ] 石崎泰裕，山本剛史，尾張真則，野島 雅，二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
| Shave-off深さ方向分析を用いた半導体封止材中銅原子の挙動解析 |
| [ 共同発表者名 ] 山本剛史，石崎泰裕，尾張真則，野島 雅，二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
| アトムプローブ分析における微小引き出し電極の最適化 |
| [ 共同発表者名 ] 山下親典，千葉 豪，野島 雅，谷口昌宏，尾張真則 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
| X線光電子分光／回折法によるバナジウム金属酸化物薄膜の構造解析に関する研究 |
| [ 共同発表者名 ] 天野健太郎，木坂裕介，橋本明菜，野島 雅，二瓶好正，尾張真則 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
| 環境中PCBの起源解析に関する検討 |
| [ 共同発表者名 ] 海老原孝，善養寺一也，後藤拓也，野島 雅，二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第55年会 |
| [ 発表日付 ] 2006年9月20日 |
