Top   >   Back   >   学会発表 の検索結果 73 件中 6173 件目

40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
[ 共同発表者名 ] 籔内 美智太郎, 大島 梓, 駒脇 拓弥, 小林 和淑, 岸田 亮, 古田 潤, P. Weckx, B. Kaczer, 松本 高士, 小野寺 秀俊
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会技術報告(VLSI設計技術), デザインガイア
[ 発表日付 ] 2016年11月28日
アナログ回路に応用可能なRTNシミュレーション手法の検討
[ 共同発表者名 ] 駒脇 拓弥, 籔内 美智太郎, 岸田 亮, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2016年9月16日
NBTIによる経年劣化の基板バイアス依存性測定と評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2016年9月14日
65nm FDSOIプロセスにおけるランダムテレグラフノイズの測定と評価
[ 共同発表者名 ] 駒脇 拓弥, 大島 梓, 岸田 亮, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 回路とシステムワークショップ
[ 発表日付 ] 2016年5月12日
65nmバルクおよびSOTBプロセスでのアンテナ比による製造時劣化の測定と評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2015年8月27日
65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 大島 梓, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会技術報告(集積回路設計)
[ 発表日付 ] 2014年12月2日
アンテナダメージによる初期発振周波数劣化測定から求めたしきい値電圧変動の評価
[ 共同発表者名 ] 大島 梓, 岸田 亮, 籔内 美智太郎, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ大会
[ 発表日付 ] 2014年9月23日
アンテナ形状の違いによる初期周波数劣化の評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 大島 梓, 籔内 美智太郎, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ大会
[ 発表日付 ] 2014年9月23日
リング型発振器の経年劣化と特性ばらつきの相関の評価
[ 共同発表者名 ] 籔内 美智太郎, 岸田 亮, 大島 梓, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2014年8月28日
リングオシレータの発振周波数測定から求めたアンテナダメージによる初期および経年劣化評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 大島 梓, 籔内 美智太郎, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2014年8月28日
65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
[ 共同発表者名 ] 大島 梓, 岸田 亮, 籔内 美智太郎, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会技術報告(集積回路設計)
[ 発表日付 ] 2014年8月5日
バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの 発振周波数ばらつきの評価
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 籔内 美智太郎, 大島 梓, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] 電子情報通信学会技術報告(VLSI設計技術), デザインガイア
[ 発表日付 ] 2013年11月28日
Verilog-Aを用いた経年劣化現象の過渡解析用トランジスタレベルモデル
[ 共同発表者名 ] 岸田 亮, 小林 和淑
[ 学会・会議名 ] DAシンポジウム
[ 発表日付 ] 2013年8月21日
Previous | 1 | 2 | 3 | Next