Top   >   Back   >   学術論文・プロシーディングス・著作 の検索結果 29 件中 129 件目

Undershoot Reduction at Load Change by a Capacitor Connecting Circuit in Hysteretic DC-DC Buck Converter
[ 全著者名 ] K. Takayanagi, R. Kishida, T. Matsuura, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2021年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
An 8-bit Hybrid Analog-to-Digital Converter Combining Flash with Radix-3 and Two-bit/cycle Successive Approximation Register Analog-to-Digital Converter
[ 全著者名 ] R. Hirai, R. Kishida, T. Matsuura, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2021年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Transition Response Improvement of Current Sensing Circuit Using Hysteresis Comparator in Buck-Boost Converter for Mobile Devices
[ 全著者名 ] Y. Susa, R. Kishida, T. Matsuura, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2021年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Two Stage Boost Converter with One Inductor for Energy Harvesting
[ 全著者名 ] K. Nakamura, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2021年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Mode Transition Improvement by Adding Load Current Sensing Circuit in a Buck-Boost Converter for Mobile Devices
[ 全著者名 ] Y. Susa, R. Kishida, T. Matsuura, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI)
[ 掲載年月 ] 2021年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
A K-band High Gain Linearity Mixer with Current-Bleeding and Derivative Superposition Technique
[ 全著者名 ] K. Saito, R. Kishida, T. Matsuura, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] Workshop on Synthesis And System Integration of Mixed Information Technologies (SASIMI)
[ 掲載年月 ] 2021年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Bias Temperature Instability Depending on Body Bias through Buried Oxide (BOX) Layer in a 65 nm Fully-Depleted Silicon-On-Insulator Process
[ 全著者名 ] R. Kishida, I. Suda, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
[ 掲載年月 ] 2021年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Examination of Incremental ADC with SAR ADC To Reduce Conversion Time with High Accuracy
[ 全著者名 ] Y. Unno, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Symposium on Intelligent Signal Processing and Communication Systems (ISPACS)
[ 掲載年月 ] 2019年 12月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Investigation of Hybrid ADC Combined with First-Order Feedforward Incremental and SAR ADCs
[ 全著者名 ] Y. Kobayashi, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Symposium on Intelligent Signal Processing and Communication Systems (ISPACS)
[ 掲載年月 ] 2019年 12月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Duty Ratio and Capacitance Analysis of AC/DC Converter without Current Control Circuit
[ 全著者名 ] Y. Tanaka, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Symposium on Intelligent Signal Processing and Communication Systems (ISPACS)
[ 掲載年月 ] 2019年 12月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Temperature Dependence of Bias Temperature Instability (BTI) in Long-term Measurement by BTI-sensitive and -insensitive Ring Oscillators Removing Environmental Fluctuation
[ 全著者名 ] T. Asuke, R. Kishida, J. Furuta, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Conference on ASIC (ASICON)
[ 掲載年月 ] 2019年 11月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Design Theory of Sub-Radix-3 SAR-ADC with C-C Ladder Based D/A Converter
[ 全著者名 ] S. Sekine, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2019年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Cross Switch to Output Input Voltage Alternately
[ 全著者名 ] K. Satou, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2019年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
A Worldwide Input Voltage AC/DC Converter Using a Capacitor Instead of Current Control
[ 全著者名 ] Y. Tanaka, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2019年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Compact Modeling of NBTI Replicationg AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement
[ 全著者名 ] T. Hosaka, S. Nishizawa, R. Kishida, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
[ 掲載年月 ] 2019年 7月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Extracting BTI-induced Degradation without Temporal Factors by Using BTI-Sensitive and BTI-Insensitive Ring Oscillators
[ 全著者名 ] R. Kishida, T. Asuke, J. Furuta, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS)
[ 掲載年月 ] 2019年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
A Novel C-2αC Ladder Based Non-binary DAC for SAR-ADC Using Unit Capacitors
[ 全著者名 ] S. Sekine, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Symposium on Intelligent Signal Processing and Communication Systems (ISPACS)
[ 掲載年月 ] 2018年 11月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Consideration on Noise-Shaping SAR ADC in Incremental Use for High Resolution and Low Power Application
[ 全著者名 ] R. Kudo, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2018年 11月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
A Digital Foreground Calibration Method Using Redundancy for SAR-ADCs
[ 全著者名 ] T. Mishiro, T. Matsuura, R. Kishida, and A. Hyogo
[ 掲載誌名 ] International Conference on Analog VLSI Circuits (AVIC)
[ 掲載年月 ] 2018年 11月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Plasma Induced Damage Depending on Antenna Layers in Ring Oscillators
[ 全著者名 ] R. Kishida, J. Furuta, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
[ 掲載年月 ] 2017年 9月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Circuit-level Simulation Methodology for Random Telegraph Noise by Using Verilog-AMS
[ 全著者名 ] T. Komawaki, M. Yabuuchi, R. Kishida, J. Furuta, T. Matsumoto, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Conference on IC Design and Technology (ICICDT)
[ 掲載年月 ] 2017年 5月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Circuit Analysis and Defect Characteristics Estimation Methods Using Bimodal Defect-Centric Random Telegraph Noise Model
[ 全著者名 ] M. Yabuuchi, A. Oshima, T. Komawaki, R. Kishida, J. Furuta, K. Kobayashi, P. Weckx, B. Kaczer, T. Matsumoto, and H. Onodera
[ 掲載誌名 ] ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)
[ 掲載年月 ] 2017年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Degradation Caused by Negative Bias Temperature Instability Depending on Body Bias on NMOS or PMOS in 65 nm Bulk and Thin-BOX FDSOI Processes
[ 全著者名 ] R. Kishida, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM)
[ 掲載年月 ] 2017年 3月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Correlations between Plasma Induced Damage and Negative Bias Temperature Instability in 65 nm Bulk and Thin-BOX FDSOI Processes
[ 全著者名 ] R. Kishida, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)
[ 掲載年月 ] 2016年 10月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Negative Bias Temperature Instability by Body Bias on Ring Oscillators in Thin BOX Fully-Depleted Silicon on Insulator Process
[ 全著者名 ] R. Kishida, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
[ 掲載年月 ] 2016年 9月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Physical-Based RTN Modeling of Ring Oscillators in 40-nm SiON and 28-nm HKMG by Bimodal Defect-Centric Behaviors
[ 全著者名 ] A. Oshima, T. Komawaki, K. Kobayashi, R. Kishida, P. Weckx, B. Kaczer, T. Matsumoto, and H. Onodera
[ 掲載誌名 ] International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
[ 掲載年月 ] 2016年 9月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Negative Bias Temperature Instability Caused by Plasma Induced Damage in 65 nm Bulk and Silicon On Thin BOX (SOTB) Processes
[ 全著者名 ] R. Kishida, A. Oshima, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
[ 掲載年月 ] 2015年 4月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Initial and Long-Term Frequency Degradation on Ring Oscillators from Plasma Induced Damage in 65 nm Bulk and Silicon On Thin BOX processes
[ 全著者名 ] R. Kishida, A. Oshima, M. Yabuuchi, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
[ 掲載年月 ] 2014年 9月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
Correlation between BTI-Induced Degradations and Process Variations by Measuring Frequency of RO
[ 全著者名 ] M. Yabuuchi, R. Kishida, and K. Kobayashi
[ 掲載誌名 ] IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK)
[ 掲載年月 ] 2014年 6月
[ 著作区分 ] レフェリー付プロシーディングス(外国語)
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