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"Soft" probe for electric measurement of 2D and fragile materials
[ 全著者名 ] Michiko Yoshitake, Yusuke Nakaune, and Kentaro Kinoshita
[ 掲載誌名 ] Proceedings of 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices 2019
[ 掲載年月 ] 2019年 10月
[ 著作区分 ] その他著作
イオン液体を活用する次世代高性能CB-RAMの開発
[ 全著者名 ] 原田晃典、木下健太郎、野上敏材、伊藤敏幸
[ 掲載誌名 ] 化学工業
[ 掲載年月 ] 2018年 10月
[ 著作区分 ] その他著作
細孔エンジニアリングによる導電性ブリッジメモリ(CBRAM)の高性能化
[ 全著者名 ] 木下 健太郎
[ 掲載誌名 ] 「応用物理」学会誌 研究紹介
[ 掲載年月 ] 2016年 2月
[ 著作区分 ] その他著作
ウィアラブル端末に求められる透明メモリのフレキシブル性と折り曲げ耐性 (依頼原稿)
[ 全著者名 ] 木下 健太郎
[ 掲載誌名 ] 月刊 MATERIAL STAGE (技術情報協会)
[ 掲載年月 ] 2015年 4月
[ 著作区分 ] その他著作
The Relationship between Data Retention Characteristics and the Physical Property of Pt Substrates in NiO-ReRAM
[ 全著者名 ] T. Makino, T. Okutani, K. Dobashi, M. Moriguchi, K. Kinoshita, S. Kishida
[ 掲載誌名 ] Proc. International Symposium on Sputtering & Plasma Processes
[ 掲載年月 ] 2009年
[ 著作区分 ] その他著作
The dependence of resistive switching characteristics on the relationship between bias polarity and electrode materials in NiO-ReRAM
[ 全著者名 ] T. Okutani, K. Kinoshita, T. Makino, M. Yokeda, K. Dobashi, Y. Sugiyama, S. Kishida
[ 掲載誌名 ] Proc. International Symposium on Sputtering & Plasma Processes
[ 掲載年月 ] 2009年
[ 著作区分 ] その他著作
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