機器分析2のシラバス情報

科目名称
Course title(Japanese)
機器分析2 科目番号
Course number
72CHIAC304
科目名称(英語)
Course title(English)
Instrumental Analysis 2
授業名称
Class name
機器分析2
教員名 四反田 功
Instructor Isao Shitanda
開講年度学期 2022年度 前期
Year/Semester 2020 First Semester 
曜日時限 木曜3限
Class hours Thursday, 3rd, Period
開講学科
Department
理工学部 先端化学科
外国語のみの科目
(使用言語)
Course in only foreign
languages (languages)
-
単位
Course credit
2.0 授業の主な実施形態
Main class format
対面授業/On-site class
概要
Descriptions
様々な機器分析手法の原理を学び,特徴について理解する.本授業は,3年次の必修科目である機器分析実験の内容と大きく関連している.本授業と機器分析実験を通して,最先端の機器分析装置の原理と操作法について理解する.


目的
Objectives
様々な機器分析手法の基礎知識を身につけて,分析対象物質に応じて,最適な機器分析手法を選ぶことができるようになる.
本学科で定めるポリシー「自然・人間・社会に係る幅広い教養を修得し、専門分野の枠を超えて横断的にものごとを俯瞰できる能力。」,「化学分野の基礎学力と、その上に立つ専門知識」,「修得した専門知識や教養をもとに、自ら課題を発見し、解決する能力。」,「修得した専門知識や教養をもとに、論理的・批判的に思考し、積極的に取り組むことのできる判断力・行動力。」に関わる科目である.
到達目標
Outcomes
1.機器分析手法の原理について理解できる.
2.分析対象物質の性質や化学的情報に応じて適切な分析手法を選択する論理思考力を身につける.
3.卒業研究で実際に装置を取り扱う際に、装置の原理を把握した上で、自分の材料研究に適した測定を行い、得られたデータを正しく解析できる,「問題解決力」を身につける.
4.統計的解析手法を理解し,機器分析によって得られたデータを適切に処理できる.
履修上の注意
Course notes prerequisites
学生証は必ず持参し,自己責任において授業時間前に出席認定に必要な所定の操作を行うこと.学生証不携帯,誤操作等については考慮しない.
他者に出席操作を依頼・委託した場合には,単位取得は認めない.
途中退出は認めない.
 
アクティブ・ラーニング科目
Teaching type(Active Learning)
課題に対する作文
Essay
小テストの実施
Quiz type test
ディベート・ディスカッション
Debate/Discussion
- グループワーク
Group work
-
プレゼンテーション
Presentation
- 反転授業
Flipped classroom
その他(自由記述)
Other(Describe)
-
準備学習・復習
Preparation and review
準備学習と復習に要する時間は、それぞれ約2時間、合計4時間を想定する。教科書・参考書等を活用し、授業で解説した重要事項を説明できるようになること。具体的な該当箇所については、各回ごとに指示する。
成績評価方法
Performance grading
policy
平常点(Zoom およびLETUSを用いた小テスト、課題提出, 30%),最終試験 70%を予定している.状況に応じて最終試験と平常点の比率を変更する可能性がある.

【フィードバックの方法】
演習課題の解答については,次回の授業内にて講評する.

無断欠席が一定数以上の場合は、成績評価しない場合があるので注意すること
学修成果の評価
Evaluation of academic
achievement
・S:到達目標を十分に達成し、極めて優秀な成果を収めている
・A:到達目標を十分に達成している
・B:到達目標を達成している
・C:到達目標を最低限達成している
・D:到達目標を達成していない
・-:学修成果の評価を判断する要件を欠格している

・S:Achieved outcomes, excellent result
・A:Achieved outcomes, good result
・B:Achieved outcomes
・C:Minimally achieved outcomes
・D:Did not achieve outcomes
・-:Failed to meet even the minimal requirements for evaluation
教科書
Textbooks/Readings
・教科書を使用する場合は、MyKiTS(教科書販売サイト)から検索・購入可能ですので以下のURLにアクセスしてください。
https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/
 
・Search and purchase the necessary textbooks from MyKiTS (textbook sales site) with the link below.
https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/
参考書・その他資料
Reference and other materials
「基礎化学選書7機器分析(三訂版)」,田中誠之・飯田芳男 共著,裳華房 (1996).
「分析化学2,3」,鎌田仁著,コロナ社(1967).
「基礎からわかる機器分析(物質工学入門シリーズ)」,加藤正直ら著,森北出版 (2010).
「ベーシック機器分析化学」,日本分析化学会近畿支部編,化学同人 (2008).
授業計画
Class plan
1. ガイダンス   〈対面授業〉
 機器分析2の目的および意義、授業内容など

2.吸光光度法   <対面授業>    
 紫外光・可視光を試料に当てて,吸光度を測ることで目的成分を定量する方法について理解する.

3. 蛍光分析     <対面授業> 
 可視または紫外光を試料に当てて,蛍光を測定することで目的物質を定量する方法を理解する.

4. 赤外吸収分光法  <対面授業>  
 赤外・ラマンスペクトルについて理解する.

5. 原子吸光分析   <対面授業>  
 原子吸光分析について理解する.

6. ICP発光分光分析  <対面授業>  
プラズマを利用した発光分光分析について理解する.

7.X線分析概論  <対面授業> 
 X線の基礎と物質の相互作用について理解する.

8.X線を利用する分析(1)  <対面授業> 
 SEM-EDSとEPMAおよびXPSについて理解する.

9.X線を利用する分析(2)  <対面授業> 
X線回折分析法,粉末X線回折について理解する.

10. 電気化学分析(1) <対面授業> 
 アンペロメトリ-・ボルタンメトリ-などを用いた電気化学分析手法について理解する.

11.電気化学分析(2)<対面授業> 
ゼータ電位の測定法について理解する.

12. 分析データの処理(1) <対面授業> 
 実験データの正しい扱い方について理解する.

13. 分析データの処理(2) <対面授業> 
 誤差、誤差の伝播、正規分布について理解する.

14. 分析データの処理(3)<対面授業> 
 Student のt分布について理解する.

15. 到達度評価  <対面授業> 
教職課程
Teacher-training course
実務経験
Practical experience
-
教育用ソフトウェア
Educational software
-
備考
Remarks
9972117
CLOSE