応用物理学演習・実験(二)(木下)のシラバス情報

科目名称
Course title(Japanese)
応用物理学演習・実験(二) 科目番号
Course number
15GRRES603
科目名称(英語)
Course title(English)
Practical training in applied physics (II)
授業名称
Class name
応用物理学演習・実験(二)(木下)
教員名 木下 健太郎
Instructor Kentaro Kinoshita
開講年度学期 2022年度 後期
Year/Semester Second semester, 2022
曜日時限 集中講義
Class hours Intensive lectures in second semester
開講学科
Department
理学研究科応⽤物理学専攻
Department of Applied Physics, Graduate School of Science
外国語のみの科目
(使用言語)
Course in only foreign
languages (languages)
-
単位
Course credit
2.0 授業の主な実施形態
Main class format
ブレンド型授業/Blended format
概要
Descriptions
半導体デバイス、機能性材料に関して実験・数値計算を⾏う.また, その結果に関する考察を
含めた発表を⾏う.

Training in experimental and numerical methods in semiconductor devices and functional mate
rials. All participants give several presentations of these results, as well as theoretical discussi
on.
目的
Objectives
半導体デバイスと機能性材料を取り扱う際に必要となる基礎的な理論物理学的⼿法を理解す
る.またテキストおよび参考資料の輪読・発表を通して論⽂読解能⼒やプレゼンテーション能
⼒,英語能⼒をに⾝につける.更にこれらの実地的な技能を⾝につけることで,⾃然科学者と
しての倫理観や態度に関しても⾝につける.本講義は本専攻のディプロマポリシー「物理学の
基礎あるいはその応⽤分野において⾼度な専⾨的学識と研究能⼒を持つことで、その分野の諸
問題を解決できる能⼒」「物理学の重要性と応⽤の可能性を認識し、これを⼈間性豊かな教養
と⾼い倫理観に基づいて社会に普及、教授できる能⼒」「専⾨分野及び関連する分野における
諸問題に対処することができるような、国際的な視点と対話能⼒」を⾝に付けることに相当す
る科⽬である.

Students will learn basic theoretical knowledge in semiconductor devices and functional materi
als. Students will also learn practical knowledge for these fields through presentations of the wr
itten texts. Finally, students will gain attitudes as an independent researcher in applied physics.
到達目標
Outcomes
1.半導体デバイスや機能性材料を取り扱う基礎的な理論と実験技術を使いこなして研究を進めることができる:
(1) 半導体素⼦及び機能性材料を作製することができる.
(2) 半導体素⼦・機能性材料の動作特性及び物性を評価するために必要な基礎データを取得することができる.
(3) 半導体素⼦・機能性材料に関する基礎データを解析し、性能と信頼性を評価することができる.
2. ⽂章⼒・プレゼンテーション能⼒・英語能⼒を駆使して情報を発信することができる.

1. You will be able to proceed your research based on theoretical and manufacturing basics of semiconductor devices and functional materials:
(1) You are able to produce semiconductor devices and functional materials.
(2) You are able to measure basic data that are necessary for evaluating semiconductor devices and functional materials.
(3) You are able to analyze the basic data and evaluate the performance and reliability of the semiconductor devices and functional materials.
2. You are able to convey information that you want to tell others with skills including composition and presentation in Japanese and English.
履修上の注意
Course notes prerequisites
7割以上の出席は必須である.また各⾃発表の準備および復習を⾏うこと

Attendance more than 70 % is required.
アクティブ・ラーニング科目
Teaching type(Active Learning)
課題に対する作文
Essay
小テストの実施
Quiz type test
ディベート・ディスカッション
Debate/Discussion
グループワーク
Group work
プレゼンテーション
Presentation
反転授業
Flipped classroom
その他(自由記述)
Other(Describe)
準備学習・復習
Preparation and review
各回毎に準備学習・復習については指⽰する.

Follow instruction in lectures for preparation and review of the contents.
成績評価方法
Performance grading
policy
発表担当時の発表および質疑の参加態度により評価する.

Grading is based on presentations in a seminar, as well as participation to discussion.
学修成果の評価
Evaluation of academic
achievement
・S:到達目標を十分に達成し、極めて優秀な成果を収めている
・A:到達目標を十分に達成している
・B:到達目標を達成している
・C:到達目標を最低限達成している
・D:到達目標を達成していない
・-:学修成果の評価を判断する要件を欠格している

・S:Achieved outcomes, excellent result
・A:Achieved outcomes, good result
・B:Achieved outcomes
・C:Minimally achieved outcomes
・D:Did not achieve outcomes
・-:Failed to meet even the minimal requirements for evaluation
教科書
Textbooks/Readings
・教科書を使用する場合は、MyKiTS(教科書販売サイト)から検索・購入可能ですので以下のURLにアクセスしてください。
https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/
 
・Search and purchase the necessary textbooks from MyKiTS (textbook sales site) with the link below.
https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/
参考書・その他資料
Reference and other materials
授業中に適宜指⽰する.

Course material will be announced in lectures.
授業計画
Class plan
[1-3] 実験室装置の利⽤⽅法(安全⾯を含む): デバイス作製装置(スパッタ装置・マスク付け・
結晶合成装置)
[4-6] 実験室装置の利⽤⽅法(安全⾯を含む): デバイス評価装置 (プローバ・微弱電流評価装
置・インピーダンス評価装置)
[7-9] データ分析の⽅法︓統計評価、ワイブル解析
[10-12] データ処理・装置制御の⾃動化: 解析ソフトの作成、測定系のコンピュータ制御
[13-15] 計算機シミュレーションの⽅法: モンテカルロシミュレーション、第⼀原理計算 (PHA
SE)、その他シミュレーションソフト

[1-3] Usage method of laboratory equipments (including safety aspects): Device manufacturing
equipments (sputtering equipments, mask attachment, crystal synthesis equipments)
[4-6] Usage method of laboratory equipments (including safety aspects): Device evaluation eq
uipments (manual probers, weak current evaluation equipments, equipments for electrochemic
al evaluation)
[7-9] Data analysis method: Statistical evaluation, Weibull analysis
[10-12] Automation of data processing and device control: creating analysis softwares, comput
er control of measuring system
[13-15] Method of computer simulation: Monte Carlo simulation, first principles calculation (PH
ASE), other simulation softwares
教職課程
Teacher-training course
本科⽬は、中学校教諭専修免許状、⾼等学校教諭専修免許状(科⽬︓理科)に必要な「⼤学が
独⾃に設定する科⽬」に該当します。ただし、科⽬区分については、⼊学年度により異なるた
め、各⾃、⼊学年度または適⽤となる年度の学修簿により確認をしてください。

This course is classified as a "training course for teaching in high and Jr. high school designed
by each university" in accordance with education personnel certification act. Please check your
course catalog for further information. The classification may vary depending on your admissio
n year.
実務経験
Practical experience
研究員 (半導体デバイス関連)
教育用ソフトウェア
Educational software
-
備考
Remarks
金曜2限
991FB89
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