Top > Back > 学会発表 の検索結果 179 件中 61‐90 件目
| ものづくり・先端計測科学研究部門 |
| [ 共同発表者名 ] ものづくり・先端計測科学研究部門 |
| [ 学会・会議名 ] 総合研究機構フォーラム2011 |
| [ 発表日付 ] 2011年11月20日 ～ 11月21日 |
| PEFCカソード触媒のD-SIMS解析 |
| [ 共同発表者名 ] 海老原峻義、宮本亜也加、池尻貴宏、野島 雅、近藤剛史、湯浅 真 |
| [ 学会・会議名 ] 2011年電気化学秋季大会 |
| [ 発表日付 ] 2011年9月9日 ～ 9月11日 |
| レーザー補助広角３次元アトムプローブ開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(Ⅳ) |
| [ 共同発表者名 ] 間山憲仁、岩田達夫、野島 雅、谷口昌宏、尾張真則 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス第141委員会・第142回研究会資料 |
| [ 発表日付 ] 2010年11月25日 |
| Evaluation of Focused Ion Beam for Shave-off Depth Profiling |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, T. Imamura, M. Nojima and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 5th International Symposium on Practical Surface Analysis |
| [ 発表日付 ] 2010年10月5日 |
| Estimation of instrumental factor on shave-off profiling |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, T. Imoto, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 5th International Symposium on Practical Surface Analysis |
| [ 発表日付 ] 2010年10月5日 |
| Specimen preparation for three-demensional atom probe using the focused ion-beam lift-out technique |
| [ 共同発表者名 ] T. Yamamoto, Y. Hanaoka, N. Mayama, T. Kaito, T. Adachi, M. Nojima and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 5th International Symposium on Practical Surface Analysis |
| [ 発表日付 ] 2010年10月5日 |
| Improvement and evaluation of the nano-beam SIMS control system |
| [ 共同発表者名 ] T. Imamura, M. Fujii, M. Nojima and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 5th International Symposium on Practical Surface Analysis |
| [ 発表日付 ] 2010年10月5日 |
| エコマテリアルのキャラクタリゼーションについて |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] エコシステム研究部門キックオフミーティング |
| [ 発表日付 ] 2010年8月2日 |
| ナノ空間を可視化するナノものさし |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] JST Innovation Bridge 東京理科大学 研究シーズ発表会 |
| [ 発表日付 ] 2010年3月16日 |
| レーザー補助広角３次元アトムプローブ開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(Ⅲ) |
| [ 共同発表者名 ] 尾張真則、間山憲仁、岩田達夫、野島 雅、谷口昌宏 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス第141委員会・第139回研究会 |
| [ 発表日付 ] 2010年2月24日 ～ 2月25日 |
| 絶対スケール深さ方向分析法を用いたナノデバイスの可視化技術 |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] 表面技術協会表協エレクトロニクス部会・電気化学会情報機能材料研究会合同研究会 |
| [ 発表日付 ] 2009年12月18日 |
| Shave-off profiling as a nanoscale 3-D element imaging technique |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 7th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '09 |
| [ 発表日付 ] 2009年12月10日 |
| Development of laser-assisted wide angle three-dimensional atom probe |
| [ 共同発表者名 ] N. Mayama, T. Iwata, S. Mikami, Y. Kajiwara, Y. Hanaoka, T. Kaito, T. Adachi, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 7th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '09 |
| [ 発表日付 ] 2009年12月10日 |
| A new specimen preparation method for three-dimensional atom probe |
| [ 共同発表者名 ] Y. Hanaoka, S. Mikami, N. Mayama, T. Iwata, Y. Kajiwara, T. Kaito, T. Adachi, M. Nojima and M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 7th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '09 |
| [ 発表日付 ] 2009年12月10日 |
| Development of reconstruction method for highly precise shave-off depth profiling |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 7th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '09 |
| [ 発表日付 ] 2009年12月10日 |
| Shave-off分析における二次イオン収率の検討 |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅、池端由基、井本智博、藤井麻樹子、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 第２９回表面科学学術講演会 |
| [ 発表日付 ] 2009年10月27日 |
| Introduction |
| [ 共同発表者名 ] 野島 雅 |
| [ 学会・会議名 ] SIMS17報告会 |
| [ 発表日付 ] 2009年10月23日 |
| Failure analysis of fine Cu patterning by shave-off profiling |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Fujii, Y. Kakuhara, H. Tsuchiya, A. Kameyama, S. Yokogawa, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 16th international conference on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2009年10月17日 |
| Shave-off depth profiling of Sn in lead-free solder alloy |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 16th international conference on secondary ion mass spectrometry |
| [ 発表日付 ] 2009年10月17日 |
| Shave-off深さ方向分析法によるはんだバンプ中スズの挙動解析 |
| [ 共同発表者名 ] 藤井麻樹子、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 第７０回日本分析化学討論会 |
| [ 発表日付 ] 2009年5月16日 |
| X-ray photoelectron diffraction study on the surface structure of VOX/TiO2(110) model catalyst |
| [ 共同発表者名 ] S. Miyasaka, A. Suzuki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] International symposium on surface and science and nanotechnology |
| [ 発表日付 ] 2008年11月13日 |
| Multi lane shave-off profiling for build-up circuit |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 17th international workshop on inelastic ion-surface collisions |
| [ 発表日付 ] 2008年9月22日 |
| Discussion of shave-off profiling speed |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 17th international workshop on inelastic ion-surface collisions |
| [ 発表日付 ] 2008年9月22日 |
| 大気環境汚中ナノ粒子のキャラクタリゼ―ション |
| [ 共同発表者名 ] 福原 渚、野島 雅、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第57年会 |
| [ 発表日付 ] 2008年9月12日 |
| X線光電子回折によるVO2/TiO2モデル触媒の構造解析 |
| [ 共同発表者名 ] 宮坂真弥、鈴木篤史、野島 雅、尾張真則、二瓶好正 |
| [ 学会・会議名 ] 日本分析化学会第57年会 |
| [ 発表日付 ] 2008年9月12日 |
| Shave-off depth profiling for electrochemical migration |
| [ 共同発表者名 ] M. Nojima, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 10th international symposium on SIMS and related techniques based on ion-solid interactions at Seikei university |
| [ 発表日付 ] 2008年7月17日 |
| Highly accurate shave-off depth profiling by simulation method |
| [ 共同発表者名 ] M. Fujii, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 10th international symposium on SIMS and related techniques based on ion-solid interactions at Seikei university |
| [ 発表日付 ] 2008年7月17日 |
| Characterization of environmental nanoparticles |
| [ 共同発表者名 ] N. Fukuhara, M. Nojima and Y. Nihei |
| [ 学会・会議名 ] 10th international symposium on SIMS and related techniques based on ion-solid interactions at Seikei university |
| [ 発表日付 ] 2008年7月17日 |
| New concepts for sample preparation on 3DAP using FIB |
| [ 共同発表者名 ] S. Mikami, T. Kaito, T. Adachi, N. Mayama, T. Iwata, M. Nojima, M. Taniguchi, M. Owari |
| [ 学会・会議名 ] 51th international field emission symposium |
| [ 発表日付 ] 2008年7月1日 |
| レーザー補助広角３次元アトムプローブの開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(II) |
| [ 共同発表者名 ] 間山憲仁、三上素直、岩田達夫、野島 雅、谷口昌宏、尾張真則 |
| [ 学会・会議名 ] マイクロビームアナリシス141委員会 第132回研究会 |
| [ 発表日付 ] 2008年5月14日 |
